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簡要描述:面銅測厚儀 CMI165 CMI165是一款人性化設(shè)計(jì)、堅(jiān)固耐用的世界帶溫度補(bǔ)償功能的手持式面銅測厚儀。 CMI165*的溫度補(bǔ)償功能確保測量結(jié)果精確而不受銅箔溫度的影響,儀器配有探針防護(hù)罩,確保探針的耐用性;配備探頭照明方便測量時準(zhǔn)確定位。
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面銅測厚儀 CMI165 |
面銅測厚儀 CMI165 CMI165是一款人性化設(shè)計(jì)、堅(jiān)固耐用的世界帶溫度補(bǔ)償功能的手持式面銅測厚儀。 CMI165*的溫度補(bǔ)償功能確保測量結(jié)果精確而不受銅箔溫度的影響,儀器配有探針防護(hù)罩,確保探針的耐用性;配備探頭照明方便測量時準(zhǔn)確定位。
產(chǎn)品特色: -- 可測試高溫的PCB銅箔 -- 顯示單位可為mils,μm或oz -- 可用于銅箔的來料檢驗(yàn) -- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試 -- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試 -- 配有SRP-T1,帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測試頭 -- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試
產(chǎn)品規(guī)格: --利用微電阻原理和*的溫度補(bǔ)償功能通過四針式SRP-T1探頭進(jìn)行銅厚測量,符合EN 14571測試標(biāo)準(zhǔn) --厚度測量范圍:化學(xué)銅:0.25 - 12.7 μm(0.01 - 0.5 mils) --儀器再現(xiàn)性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils) --強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能,包括數(shù)據(jù)記錄平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能 --儀器的操作界面有英文和簡體中文兩種語言供選擇 --儀器無需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片,可實(shí)現(xiàn)蝕刻后的線型銅箔的厚度測量,可測線寬范圍低至0.2 mm --儀器可以儲存9690條檢測結(jié)果(測試日期時間可自行設(shè)定) --測試數(shù)據(jù)通過USB2.0實(shí)現(xiàn)高速傳輸,也可保存為Excel格式文件 --儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn) --客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器 --用戶可選擇固定或連續(xù)測量模式 --儀器使用普通AA電池供電 |
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